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納米級磁性測量領域首個國際標準發(fā)布

信息來源:廣東省WTO/TBT通報咨詢研究中心    發(fā)布日期:2022-02-17    閱讀:5143次
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據歐盟2022年1月18日消息,其歐洲創(chuàng)新與研究計量計劃(EMPIR)項目“納米級可追溯磁場測量”(Nano-scale traceable magnetic field,15SIB06,NanoMag)提高了歐洲的計量能力,對磁場的精確和可追溯測量擴展到微米和納米尺度。這為高分辨率磁場測量的國際協調做出了貢獻,并使得歐洲工業(yè)界能夠以前所未有的精度水平來測量和使用磁場,可供計算機、磁感應和生物醫(yī)學等領域的工業(yè)用戶在質量控制和產品性能方面制定新的標準。

EMPIR表示該項目的成果也促使《IEC TS 62607-9-1:納米制造-關鍵控制特性-第9-1部分:可追溯的空間分辨納米級雜散磁場測量-磁力顯微鏡》(IEC TS 62607-9-1: Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 9-1: Traceable spatially resolved nano-scale stray magnetic field measurements - Magnetic force microscopy)國際標準的發(fā)布,這是首個納米級磁性測量領域的國際標準,將對活躍在磁成像領域以及納米磁性材料和設備研發(fā)領域的公司和研究中心提供幫助。

該標準的摘要說明如下:

IEC 62607-9-1:2021確定了一種標準化方法來表現空間變化的磁場,通過磁力顯微鏡(MFM)對平面磁性樣品的空間分辨率低至10納米。MFM主要檢測垂直于樣品表面的雜散磁場分量。該分辨率是通過使用磁性納米結構的參考物質對MFM探針進行校準來實現的。

該IEC技術規(guī)范的目的在于規(guī)定和描述以下方面的內容:

●用于可追溯的高分辨率雜散磁場測量的參考物質;

●用來確定儀器校準功能(ICF)的校準程序,如果需要,還要確定進入去卷積處理的MFM關鍵參數:

●去卷積處理,允許使用ICF從被測量的MFM數據中計算出定量的雜散磁場數據;

●對測量不確定度的評估,包括防止可能在測量過程中出現的,會導致對結果錯誤解讀的潛在人工制品。


本新聞由廣東省WTO/TBT通報咨詢研究中心摘錄/編輯/整理并翻譯,轉載請注明來源。

更多詳情請見:

https://www.euramet.org/publications-media-centre/news/news/worlds-first-standard-in-small-magnetic-measurements-is-published/?tx_news_pi1%5Bcontroller%5D=News&tx_news_pi1%5Baction%5D=detail&cHash=1fe7fc044e6593bdbf0ae46aff72bf9e

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